Enzyklopädie > E > Elektronische Specklemuster-Interferometrie


Elektronische Specklemuster-Interferometrie



Die elektronische Speckle-Interferometrie, auch ESPI für englisch Electronic Speckle Pattern Interferometry genannt, dient der Analyse von Schwingungen und zur Erfassung von Deformationen. Sie ist ein optisches Messverfahren zur berührungslosen flächenhaften Verschiebungsmessung, Deformationsmessung und Formvermessung mit sehr hoher Genauigkeit.



Mehr Informationen (Wikipedia)

Die Informationen wurden von Wikipedia übernommen, einer offenen Enzyklopädie in welche Freiwillige ihre Beiträge beisteuern.

Die Texte sind unter den Bedingungen der GNU Free Documentation License zugänglich.

Encyklopedie (cz) Encyklopédia (sk) Encyclopedia (en)


de