Enzyklopädie > E > Ellipsometrie
Ellipsometrie
Die Ellipsometrie ist ein Messverfahren der Materialforschung und der Oberflächenphysik, mit dem Real- und Imaginärteil der komplexen dielektrischen Funktion (oder Real- und Imaginärteil der komplexen Brechzahl) und/oder die Schichtdicke dünner Schichten bestimmt werden kann. Ellipsometrie lässt sich für die Untersuchung unterschiedlichster Materialien anwenden:
Mehr Informationen (Wikipedia)
Die Informationen wurden von Wikipedia übernommen, einer offenen Enzyklopädie in welche Freiwillige ihre Beiträge beisteuern.
Die Texte sind unter den Bedingungen der GNU Free Documentation License zugänglich.Encyklopedie (cz) Encyklopédia (sk) Encyclopedia (en)