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Sekundär-Neutralteilchen-Massenspektrometrie
Sekundär-Neutralteilchen-Massen-Spektrometrie (SNMS) ist ein Analyseverfahren der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie (SIMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den Ionenstrahltechniken.
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